Ảnh hưởng của hàm lượng RAMs đến độ hấp thụ tia X và tia Gama của bê tông chống phóng xạ barit

2.2. Các phương pháp nghiên cứu

   Xác định năng lượng truyền qua, độ hấp thụ và suất liều bức xạ X và γ bằng máy phân tích biên độ đa kênh tại Trung tâm Nguyên tử quốc gia Đà Lạt [4,5,6].

   Đo suất liều bức xạ tia X của phòng hấp thụ sóng điện từ đa công dụng bằng thiết bị Inspector của Trung tâm hạt nhân TP.HCM.

3. Kết quả và thảo luận

3.1. Ảnh hưởng của hàm lượng RAM đến độ hấp thụ tia X và γ

3.1.1. Kết quả nghiên cứu

   Đã đo độ truyền qua tia X và y của các mẫu M1, M2, M3, M4, M5 ứng với hàm lượng RAM 0; 2,5; 5; 7,5 và 10%. Kết quả do ghi trong bảng 1, trong đó kí hiệu Mo ứng với trạng thái không có mẫu che chắn.

   Đánh giá độ hấp thụ của các mẫu theo các nguồn phát khác nhau theo công thức :

E_ht = E_ng – E_TQ (1)

trong đó:

E_ht là năng lượng bị tấm chắn hấp thụ.
E_ng là năng lượng nguồn,
E_TQ là năng lượng truyền qua và được tính theo công thức

E_TQ = (n₂/ n₁).E_ng (2)

với

n₁: độ truyền qua hay tố độ đếm phóng xạ trong trường hợp không có mẫu che chắn,
n₂: độ truyền qua tố độ đếm phóng xạ trong trường hợp có mẫu che chắn.

   Đánh giá khả năng hấp thụ của các mẫu (%) ta có:

	(3)
	(4)

trong đó nht là độ hấp thụ của mẫu (%).

   Từ (3) và bảng 1 ta tính được độ hấp thụ tia X và γ của các mẫu với các mức nguồn phát năng lượng khác nhau, kết quả nêu trong bảng 2.

   Từ bảng 2 dựng được đồ thị biểu diễn phụ thuộc độ hấp thụ nht (5) theo hàm lượng RAM (hình 1)

Bảng 1 và 2

Pages: Page 1, Page 2, Page 3